Високоточні прилади для дослідження поверхні й структури матеріалів на нано-рівні. Сканувальні електронні мікроскопи Carl ZEISS (SEM) створюють зображення завдяки відбитим електронам, забезпечуючи надвисоку роздільну здатність. Двопроменеві мікроскопи (FIB-SEM) поєднують електронний і іонний пучки, що дає змогу не лише спостерігати, а й модифікувати зразок на мікрорівні.
Електронні скануючі мікроскопи ZEISS
Електронні сканувальні та двопроменеві мікроскопи Carl ZEISS — для нанотехнологій, науки та промисловості. Сканувальні електронні мікроскопи (SEM) дають змогу детально досліджувати поверхню зразків із надвисокою роздільною здатністю. Використовуються в матеріалознавстві, фізиці, біології, металургії та електроніці. Двопроменеві мікроскопи (FIB-SEM) поєднують електронний і іонний пучки для об’ємного аналізу, 3D-реконструкцій, мікрообробки та нанесення тонких шарів. У нашому каталозі — сучасне мікроскопічне обладнання для наукових інститутів, університетів і високотехнологічного виробництва. Замовляйте електронний мікроскоп ZEISS EVO / Sigma / Gemini з доставкою по Україні.