Мікроскопи Carl ZEISS Lattice SIM, здатні забезпечувати надзвичайно чітке зображення найменших деталей на нано- та субмікронному рівні. Використовуються в наукових дослідженнях, матеріалознавстві, мікроелектроніці та медицині. Відрізняються високою числовою апертурою, якісною оптикою та точною фокусною настройкою.
Мікроскопи надвисокої роздільної здатності
Мікроскоп надвисокої роздільної здатності ZEISS Lattice SIM 3
Мікроскопи надвисокої роздільної здатності ZEISS Lattice SIM — для науки, нанотехнологій та електроніки. Мікроскопи з надвисокою роздільною здатністю застосовуються у випадках, коли необхідно побачити найменші деталі зразка з максимальною точністю. Вони незамінні в наукових дослідженнях, нанотехнологіях, вивченні клітин, мікроструктур матеріалів та електронних компонентів. Завдяки сучасній оптиці, високій числовій апертурі та стабільній механіці, такі мікроскопи забезпечують відмінну якість зображення навіть при великих збільшеннях. У каталозі представлені цифрові та оптичні моделі для лабораторій, медичних центрів і промислових підприємств.