Рентгенівський мікроскоп ZEISS Versa XRM

Рентгенівський мікроскоп ZEISS Versa XRM — це інноваційна платформа для тривимірної візуалізації з субмікронною роздільною здатністю, яка поєднує передові оптичні технології, інтуїтивний інтерфейс та автоматизацію для дослідників у сфері матеріалознавства, геології, біомедицини та фармацевтики.

Модель VersaXRM 730 оснащена унікальним об’єктивом 40x-Prime, що забезпечує роздільну здатність 450-500 нанометрів у широкому діапазоні напруги (30–160 кВ). Завдяки цьому відкриваються нові можливості для досліджень наноструктур різного типу з максимальною чіткістю та деталізацією.

Система оснащена програмним забезпеченням ZEN navx, яке автоматизує робочі процеси, дозволяючи ефективно керувати експериментами навіть без глибоких технічних знань. Інтелектуальна AI-реконструкція зображень DeepRecon Pro не лише покращує якість зображень, а й суттєво прискорює обробку даних, дозволяючи проводити повторювані дослідження з високою продуктивністю.

ZEISS Versa XRM – технології, деталізація

LabDCT Pro розширює можливості ZEISS Versa, дозволяючи отримувати безруйнувальні тривимірні карти кристалічної орієнтації та мікроструктури полікристалічних матеріалів, що є надзвичайно важливим для аналізу металевих сплавів, кераміки, геоматеріалів та фармацевтичних препаратів.

Технологія Dual Scan Contrast Visualizer (DSCoVer) збільшує інформаційний вміст знімків, комбінуючи дані з томографій при різних енергіях рентгенівського випромінювання для кращого розрізнення матеріалів за хімічним складом і щільністю.

Серед додаткових переваг — можливість швидкої та точної зйомки великих, плоских або складних за формою зразків завдяки High Aspect Ratio Tomography (HART) та Wide Field Mode (WFM). Автоматичний змінник фільтрів (AFC) забезпечує безперервну роботу без необхідності ручного втручання.

ZEISS Versa XRM — це комплексне рішення, що поєднує інноваційність, простоту використання та надійність, оптимальне для довготривалих та високоточних досліджень у різних галузях науки і промисловості.